21世紀發展的(de)理想電(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)可(ke)(ke)廣泛應用于 3C 也被稱為(wei)手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦、可(ke)(ke)穿(chuan)戴(dai)設備等(deng)(deng)領(ling)域，鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)具(ju)有能量密度高(gao)(gao)、電(dian)(dian)壓高(gao)(gao)、壽命長、無記(ji)憶效(xiao)應等(deng)(deng)優點，3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)是(shi)容(rong)易因(yin)短路、過充等(deng)(deng)原因(yin)燒毀或(huo)爆(bao)炸，所(suo)以很危險3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)測試是(shi)鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)制造和組裝的(de)重要(yao)環(huan)節，是(shi)實現鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)性(xing)(xing)能和安全靠(kao)譜使用的(de)有力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)測試項(xiang)目主(zhu)要(yao)包括一致性(xing)(xing)、功(gong)能性(xing)(xing)、安全性(xing)(xing)、可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)(xing)和工況模擬(ni)。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓免費視頻:pogopin探針模塊。通過比較兩(liang)者的優缺(que)點，我們可(ke)以更直觀地區分哪(na)一個(ge)更符(fu)合(he)要求3C鋰(li)電池測試(shi)要求。

　　從目前的市(shi)場趨(qu)勢來(lai)看，3C電子產品內部空(kong)間集成度高，pitch不斷縮(suo)小，pogopin探針模組在小pitch該(gai)領域適應性(xing)差，只能處(chu)理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性(xing)差。3C鋰電池(chi)測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊(kuai)能承載(zai)的額定電流僅(jin)為1A，在傳輸(shu)過(guo)程(cheng)中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大電(dian)(dian)流彈片微針模組無論是(shi)面對小間距還是(shi)大電(dian)(dian)流，都(dou)有(you)(you)很好的(de)應對方法。在(zai)小pitch在(zai)該領域(yu)，大電(dian)(dian)流彈片微針模塊是(shi)可取(qu)的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)可靠(kao)。面對大電(dian)(dian)流測試要求，大電(dian)(dian)流彈片微針模塊可通(tong)過(guo)的(de)額定(ding)電(dian)(dian)流大到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾(ji)乎沒有(you)(you)電(dian)(dian)流衰減，具有(you)(you)良好的(de)連接功能，可以(yi)很大限度地保障3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試的(de)穩定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽(shou)命(ming)而言(yan)，pogopin探(tan)(tan)(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽(shou)命(ming)在于5w大電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)(mo)(mo)組(zu)的試(shi)驗壽(shou)命(ming)約為20w以上，比較pogopin探(tan)(tan)(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)整整多(duo)了四倍!況(kuang)且pogo pin探(tan)(tan)(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)為多(duo)組(zu)件(jian)結構，生產工(gong)藝復(fu)雜(za)，生產難(nan)度高，交貨期(qi)長;大電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)(mo)(mo)組(zu)是一種集(ji)成彈(dan)片(pian)(pian)結構，輕、扁平，可根據客戶要求定制，生產難(nan)度低，交貨期(qi)短(duan)。相(xiang)比之下，通(tong)大電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)(mo)(mo)組(zu)的成本性(xing)能并不(bu)太高!

　　對(dui)比母座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試良率，pogopin針(zhen)對(dui)探針(zhen)模(mo)塊BTB連接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)母座(zuo)(zuo)幾乎無法實(shi)現，穩(wen)定性極差。大部(bu)分采用觸(chu)(chu)摸方案對(dui)應，母座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試良率不到80%;母座(zuo)(zuo)上有(you)一種特別的(de)(de)通(tong)大電流彈片微針(zhen)模(mo)組對(dui)應方法。將斜口型(也稱尖頭(tou)(tou)型)彈片頭(tou)(tou)插入連接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)內端子，以保(bao)持一定的(de)(de)開度(du)，從而保(bao)障(zhang)彈片的(de)(de)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)面(mian)(mian)和接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)面(mian)(mian)BTB連接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)端子兩側保(bao)持接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)狀態(tai)，使測(ce)(ce)試穩(wen)定，母座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試良率達到99.8%。

　　大電(dian)(dian)流彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組測試(shi)效率(lv)高(gao)，穩定(ding)性好。與同一產(chan)品測試(shi)前(qian)后相(xiang)比(bi)，連接器基本上看不(bu)(bu)到(dao)刺痕，不(bu)(bu)會對(dui)產(chan)品造成任何損壞pogo pin電(dian)(dian)池測試(shi)模(mo)塊更值得(de)選擇(ze)和信賴(lai)。