我們(men)常看到(dao)的(de)一些3C產(chan)品(pin)，里面(mian)都(dou)有安(an)(an)裝(zhuang)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有高能量密(mi)度、高電(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無記憶(yi)效應等(deng)優點，是21世紀發展的(de)理(li)想(xiang)電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣(guang)泛應用于 3C 也(ye)被稱為(wei)手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦、筆記本(ben)電(dian)(dian)(dian)腦、可穿戴(dai)設備(bei)等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因短路、過充等(deng)原因燒毀(hui)或爆炸，所以(yi)很(hen)危險(xian)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試是鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制(zhi)造和組裝(zhuang)的(de)重要(yao)環節(jie)，是實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)(xing)能和安(an)(an)全靠(kao)譜使用的(de)有力保(bao)障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試項目主要(yao)包(bao)括一致(zhi)性(xing)(xing)、功能性(xing)(xing)、安(an)(an)全性(xing)(xing)、靠(kao)譜性(xing)(xing)和工況模擬。

　　3C鋰(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)對電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)模(mo)(mo)塊的選擇很重要(yao)。目前市場上廣泛使(shi)用的電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)模(mo)(mo)塊有兩種，一(yi)(yi)種是凱智通(tong)大電(dian)流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊，另一(yi)(yi)種是pogo pin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊。通(tong)過比較兩者的優缺點，我們可以更(geng)(geng)直(zhi)觀地區分哪一(yi)(yi)個更(geng)(geng)符(fu)合要(yao)求(qiu)3C鋰(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓免費視頻:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無(wu)論面對小(xiao)間距還是大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)(mo)塊都有很好的應對方法。pitch在(zai)該領域，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)(mo)塊是可取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)(ding)靠譜。面對大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測試要求，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)(mo)塊可通(tong)過的額定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰減，具有良好的連接功能，可以(yi)很大(da)(da)(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試的穩定(ding)(ding)性(xing)。

　　就使用(yong)壽(shou)命(ming)(ming)而言，pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊(kuai)(kuai)的(de)試驗(yan)壽(shou)命(ming)(ming)在(zai)于5w大電流彈片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)的(de)試驗(yan)壽(shou)命(ming)(ming)約為(wei)20w以上(shang)，比(bi)較pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊(kuai)(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了四(si)倍！pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊(kuai)(kuai)為(wei)多(duo)組件(jian)結(jie)(jie)構(gou)，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難(nan)(nan)度高，交(jiao)貨周期長；大型電流彈片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)為(wei)一體化彈片(pian)結(jie)(jie)構(gou)，輕(qing)、扁(bian)平，可(ke)根(gen)據客戶(hu)要求定(ding)制，生(sheng)產(chan)難(nan)(nan)度低(di)，交(jiao)貨周期短。相比(bi)之下(xia)，大型電流彈片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)的(de)成本性(xing)能并不太高！

　　對比(bi)母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率，pogopin探針模組針對BTB連(lian)接(jie)器母(mu)座(zuo)幾乎(hu)無(wu)法(fa)實(shi)現，穩定性極差。大(da)部分采用(yong)觸(chu)摸方案對應，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率不到80%；母(mu)座(zuo)上有一(yi)種(zhong)特別的大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片微針模塊對應方法(fa)。將斜口型（也稱(cheng)尖頭型）彈(dan)片頭插入(ru)連(lian)接(jie)器內端子，以(yi)保持一(yi)定的開度，從而保障彈(dan)片的接(jie)觸(chu)面和接(jie)觸(chu)面BTB連(lian)接(jie)器端子兩側保持接(jie)觸(chu)狀態(tai)，使(shi)測(ce)試(shi)穩定，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率高達99.8%。

　
　大電流(liu)彈片微針模(mo)塊測試(shi)(shi)效率高(gao)，穩定(ding)性好(hao)。與同(tong)一產品測試(shi)(shi)前后相比，連接器(qi)基本上看不(bu)到刺痕，不(bu)會對(dui)產品造成任(ren)何損壞pogopin探針電池測試(shi)(shi)模(mo)塊更值得(de)選擇(ze)和(he)信賴。