21世紀發展的(de)(de)理想電(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)池可廣泛應用于(yu) 3C 也被(bei)稱為(wei)手(shou)機、平板電(dian)腦、筆(bi)記本電(dian)腦、可穿(chuan)戴設備等領域(yu)，鋰(li)(li)電(dian)池具有(you)能(neng)量密度高、電(dian)壓高、壽命長、無記憶效應等優點，3C鋰(li)(li)電(dian)池是容易(yi)因短路、過充(chong)等原因燒毀或爆炸，所以很危險(xian)3C鋰(li)(li)電(dian)池測試是鋰(li)(li)電(dian)池制造(zao)和(he)組裝的(de)(de)重要環節(jie)，是實現鋰(li)(li)電(dian)池性(xing)(xing)能(neng)和(he)安(an)全靠譜使用的(de)(de)有(you)力保障。3C鋰(li)(li)電(dian)池測試項目主要包括(kuo)一(yi)致性(xing)(xing)、功能(neng)性(xing)(xing)、安(an)全性(xing)(xing)、可靠性(xing)(xing)和(he)工況(kuang)模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓免費視頻:pogopin探針模塊。通過比較兩者的優缺點，我們(men)可以(yi)更直觀地區分哪一個更符合要(yao)求3C鋰電(dian)池測試(shi)要(yao)求。

　　從目(mu)前(qian)的市場趨勢(shi)來看，3C電子產品(pin)內部空間集成度高，pitch不(bu)斷縮小，pogopin探(tan)針(zhen)模組在小pitch該領域適應性(xing)差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命(ming)和穩定(ding)性(xing)差。3C鋰電池測試對電流的需求(qiu)很大，pogopin探(tan)針(zhen)模塊能承載的額(e)定(ding)電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不(bu)同位衰減(jian)，導致連接不(bu)穩定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大電(dian)(dian)(dian)流彈(dan)片微針模組無論是(shi)面對(dui)小間距還是(shi)大電(dian)(dian)(dian)流，都有很好的應對(dui)方法。在(zai)小pitch在(zai)該領域，大電(dian)(dian)(dian)流彈(dan)片微針模塊(kuai)是(shi)可(ke)(ke)取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定(ding)可(ke)(ke)靠。面對(dui)大電(dian)(dian)(dian)流測試要求，大電(dian)(dian)(dian)流彈(dan)片微針模塊(kuai)可(ke)(ke)通(tong)過的額(e)定(ding)電(dian)(dian)(dian)流大到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)流衰減，具有良好的連接功(gong)能(neng)，可(ke)(ke)以很大限度地保(bao)障(zhang)3C鋰電(dian)(dian)(dian)池(chi)測試的穩定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽命而言，pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)的(de)(de)試驗壽命在于(yu)5w大(da)電流彈(dan)(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組的(de)(de)試驗壽命約(yue)為20w以上，比較pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了(le)四倍!況且pogo pin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)為多(duo)組件(jian)結構，生(sheng)產(chan)工藝復雜(za)，生(sheng)產(chan)難度高，交貨期(qi)長;大(da)電流彈(dan)(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組是(shi)一種集成(cheng)彈(dan)(dan)片結構，輕、扁平，可根據(ju)客(ke)戶要(yao)求定制(zhi)，生(sheng)產(chan)難度低，交貨期(qi)短。相(xiang)比之(zhi)下，通大(da)電流彈(dan)(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組的(de)(de)成(cheng)本性能并不(bu)太高!

　　對比母座(zuo)(zuo)測試(shi)良率(lv)，pogopin針對探針模(mo)塊BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)(qi)母座(zuo)(zuo)幾(ji)乎無法實現(xian)，穩定性(xing)極差。大(da)(da)部分采用觸(chu)摸(mo)方案(an)對應(ying)，母座(zuo)(zuo)測試(shi)良率(lv)不到80%;母座(zuo)(zuo)上有一種特別的通大(da)(da)電流彈片微針模(mo)組(zu)對應(ying)方法。將(jiang)斜口型(xing)(也稱(cheng)尖頭型(xing))彈片頭插(cha)入連(lian)接(jie)(jie)器(qi)(qi)內端(duan)子，以保(bao)持(chi)一定的開度，從(cong)而保(bao)障彈片的接(jie)(jie)觸(chu)面和接(jie)(jie)觸(chu)面BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)(qi)端(duan)子兩(liang)側(ce)保(bao)持(chi)接(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai)，使(shi)測試(shi)穩定，母座(zuo)(zuo)測試(shi)良率(lv)達(da)到99.8%。

　　大電(dian)流彈片微針模組測(ce)試效(xiao)率高，穩定性好。與同一產品(pin)(pin)測(ce)試前(qian)后相比，連接器基本上看(kan)不到刺痕，不會對產品(pin)(pin)造成任何(he)損(sun)壞pogo pin電(dian)池測(ce)試模塊更值(zhi)得選擇和信(xin)賴。