我(wo)們常看到的一些(xie)3C產(chan)品，里(li)面都有(you)安(an)(an)裝鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)，鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)具(ju)有(you)高(gao)(gao)能(neng)量密(mi)度、高(gao)(gao)電(dian)(dian)壓、壽命長、無記憶效應(ying)等(deng)優點，是(shi)21世(shi)紀發展的理想電(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被(bei)稱(cheng)為手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)腦、可(ke)穿(chuan)戴(dai)設備(bei)等(deng)領域3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)容(rong)易(yi)因短路、過充等(deng)原因燒(shao)毀或爆炸，所以很(hen)危險(xian)3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)是(shi)鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)制造(zao)和組(zu)裝的重要環節，是(shi)實(shi)現鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)性能(neng)和安(an)(an)全靠譜使用的有(you)力保障，3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)項目主要包(bao)括一致性、功能(neng)性、安(an)(an)全性、靠譜性和工況模擬。

　　3C鋰電池測試(shi)對(dui)電池測試(shi)模(mo)塊(kuai)的(de)選擇很重要(yao)(yao)。目前市場上廣泛(fan)使用的(de)電池測試(shi)模(mo)塊(kuai)有兩種(zhong)(zhong)，一(yi)種(zhong)(zhong)是凱智通(tong)大(da)電流(liu)彈片微針模(mo)塊(kuai)，另(ling)一(yi)種(zhong)(zhong)是pogo pin探針模(mo)塊(kuai)。通(tong)過比較兩者的(de)優(you)缺點，我們(men)可以(yi)更直觀地區(qu)分(fen)哪一(yi)個更符合要(yao)(yao)求(qiu)3C鋰電池測試(shi)要(yao)(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓免費視頻:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小間距還是(shi)大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)，大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)都有很(hen)好的(de)應對方法。pitch在該領域(yu)，大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)是(shi)可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩(wen)定(ding)靠譜。面對大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)測(ce)試要求，大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)可通(tong)過(guo)的(de)額(e)定(ding)電(dian)(dian)(dian)流(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒(mei)有電(dian)(dian)(dian)流(liu)衰減(jian)，具有良(liang)好的(de)連接功能(neng)，可以很(hen)大(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)池(chi)測(ce)試的(de)穩(wen)定(ding)性(xing)。

　　就使用壽命而言，pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)試(shi)驗壽命在于(yu)5w大電流(liu)彈片微針(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)試(shi)驗壽命約為(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)整整多了四倍！pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)多組件結(jie)構(gou)，生(sheng)產工藝復雜，生(sheng)產難度高，交貨周期長；大型(xing)電流(liu)彈片微針(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)一體化彈片結(jie)構(gou)，輕、扁(bian)平，可根據(ju)客戶要求定(ding)制，生(sheng)產難度低(di)，交貨周期短。相比之下，大型(xing)電流(liu)彈片微針(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)成(cheng)本性能并不(bu)太高！

　　對(dui)比母(mu)座(zuo)(zuo)測試良率，pogopin探針(zhen)(zhen)模組針(zhen)(zhen)對(dui)BTB連(lian)(lian)接(jie)器母(mu)座(zuo)(zuo)幾(ji)乎無法(fa)實現，穩定性(xing)極差。大(da)部(bu)分采用觸(chu)摸方案對(dui)應(ying)，母(mu)座(zuo)(zuo)測試良率不到80%；母(mu)座(zuo)(zuo)上有一種(zhong)特(te)別的大(da)電(dian)流彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模塊對(dui)應(ying)方法(fa)。將斜口型(xing)（也稱尖(jian)頭型(xing)）彈片(pian)頭插入(ru)連(lian)(lian)接(jie)器內端(duan)子，以保持一定的開度，從而保障(zhang)彈片(pian)的接(jie)觸(chu)面和接(jie)觸(chu)面BTB連(lian)(lian)接(jie)器端(duan)子兩側保持接(jie)觸(chu)狀態，使測試穩定，母(mu)座(zuo)(zuo)測試良率高達99.8%。

　
　大電流彈片微針模塊測試效率高，穩定性好。與同一產(chan)品測試前后(hou)相(xiang)比，連(lian)接器基本上看不(bu)到刺痕(hen)，不(bu)會對(dui)產(chan)品造成任何(he)損壞pogopin探針電池測試模塊更值得選(xuan)擇(ze)和信賴。